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환경 설정 없음OEM 모델 설명
The FEI XL830 is a DualBeam FIB/SEM system that offers high-resolution SEM imaging and quick, accurate ion milling. The SEM column of the DualBeam XL830 workstation delivers 3-nm resolution within the range of 1-30 kV, while the electron column features balanced-field, in-lens detection that provides detailed topographical information, improved visibility down holes, and enhanced imaging of grain boundaries.문서
문서 없음
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILLIPS
XL830
검증됨
카테고리
SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
30669
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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XL830
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SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
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The FEI XL830 is a DualBeam FIB/SEM system that offers high-resolution SEM imaging and quick, accurate ion milling. The SEM column of the DualBeam XL830 workstation delivers 3-nm resolution within the range of 1-30 kV, while the electron column features balanced-field, in-lens detection that provides detailed topographical information, improved visibility down holes, and enhanced imaging of grain boundaries.문서
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