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JEOL JSM-6490LV
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    OEM 모델 설명
    Presenting the JEOL 6490LV SEM featuring W-filament technology. Equipped with SE, BSE, and EDS detectors, it operates in high- or low-vacuum modes, enabling sub-micron-scale imaging and X-ray compositional data collection without sample coating. The EDS detector allows qualitative and semi-quantitative elemental analysis of sub-micron volumes, X-ray mapping over mm-scale fields of view, and X-ray line scans. Achieve comprehensive characterization effortlessly with the JEOL 6490LV SEM.
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    JEOL

    JSM-6490LV

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    검증됨

    카테고리
    SEM

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    63964


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음

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    JEOL JSM-6490LV

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    JSM-6490LV

    SEM
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

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    listing-photo-712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1213/712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04/84cd808aaf4b4f7189833c6a76a2c2f9_img2483_mw.jpg
    listing-photo-712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1213/712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04/304314a4dc32416eb4833ff6a308439f_img2484_mw.jpg
    listing-photo-712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1213/712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04/04be449eef16463fb77d90d3f91c80db_img2486_mw.jpg
    listing-photo-712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1213/712dd8cfeb5a4015bacd1f6e08a51f04/fee8ebdec60f4f2a92f5fdcef9cc3db4_img2487_mw.jpg
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    Used


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    제품 ID:

    63964


    웨이퍼 사이즈:

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    빈티지:

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    Presenting the JEOL 6490LV SEM featuring W-filament technology. Equipped with SE, BSE, and EDS detectors, it operates in high- or low-vacuum modes, enabling sub-micron-scale imaging and X-ray compositional data collection without sample coating. The EDS detector allows qualitative and semi-quantitative elemental analysis of sub-micron volumes, X-ray mapping over mm-scale fields of view, and X-ray line scans. Achieve comprehensive characterization effortlessly with the JEOL 6490LV SEM.
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