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환경 설정 없음OEM 모델 설명
SMI3050SE is an FIB-SEM hybrid system equipped with an ion beam optical system and electron beam optical system newly developed in response to the shrink of semiconductor devices, enabling high-precision sample processing and observation in comparison to conventional systems.문서
문서 없음
SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO
SMI3050SE
검증됨
카테고리
SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
97700
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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SEM
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