설명
Scanning Electron Microscope (SEM)환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Scanning electron microscope for versatile, high performance materials imaging and analysis.문서
문서 없음
THERMOFISHER SCIENTIFIC
Apreo 2 C
검증됨
카테고리
SEM
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
68121
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
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Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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