
설명
FEI Titan 80-300 transmission electron microscope (TEM/STEM) utilizes aberration correction technology at its core, integrating multi-mode observation and in-situ analysis capabilities.환경 설정
High Voltage Ranger: - 80 kV to 300 kV Convergent Beam Voltage Ranger: - 80 kV, 200 kV, 300 kV TEM: - At 300 kV voltage, resolution reaches up to 0.20 nm STEM Resolution: - At 300 kV voltage: 0.136 nm Camera Pixels: - GATAN Digital Camera: 2k×2k pixels - GATAN OneView IS CMOS Camera: 4k×4k pixelsOEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
카테고리
TEM
마지막 검증일: 18일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
151846
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2009
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
FEI-TECNAI
Titan 80-300
카테고리
TEM
마지막 검증일: 18일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
151846
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2009
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
FEI Titan 80-300 transmission electron microscope (TEM/STEM) utilizes aberration correction technology at its core, integrating multi-mode observation and in-situ analysis capabilities.환경 설정
High Voltage Ranger: - 80 kV to 300 kV Convergent Beam Voltage Ranger: - 80 kV, 200 kV, 300 kV TEM: - At 300 kV voltage, resolution reaches up to 0.20 nm STEM Resolution: - At 300 kV voltage: 0.136 nm Camera Pixels: - GATAN Digital Camera: 2k×2k pixels - GATAN OneView IS CMOS Camera: 4k×4k pixelsOEM 모델 설명
미제공문서
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