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Transmission electron microscope enables high-resolution microscopic morphology imaging, micro-area elemental composition analysis JEOL JEM-2100 Transmission Electron Microscope (TEM)

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JEOL

JEM-2100

검증됨

카테고리

TEM

마지막 검증일: 18일 전

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작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

151850

웨이퍼 사이즈:

알 수 없음

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JEM-2100

TEM

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마지막 검증일18일 전

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