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Field Scanning Electron Microscope - Single tilt (+/- 40 Degrees) - Double tilt (+/- 40 Degrees, +/- 30 Degrees)OEM 모델 설명
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JEOL
JEM-2100
검증됨
카테고리
TEM
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
89565
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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