설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
UltraScan Wafer Metrology System The 9600 and 9650 systems, introduced in 1994 and based on the more advanced E-Plus station, measure thickness down to an accuracy of 0.25 microns.문서
문서 없음
KLA / ADE
ULTRASCAN 9600
검증됨
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
94019
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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ULTRASCAN 9600
카테고리
Thin Film / Film Thickness
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