설명
Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The Atlas III, Atlas II+, and Atlas XP/Atlas XP+ line of high-performance metrology systems providing optical critical dimension (“OCD”®), thin film metrology and wafer stress for transistor and interconnect metrology applications.문서
문서 없음
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 19일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
147775
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
ATLAS III
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 19일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
147775
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The Atlas III, Atlas II+, and Atlas XP/Atlas XP+ line of high-performance metrology systems providing optical critical dimension (“OCD”®), thin film metrology and wafer stress for transistor and interconnect metrology applications.문서
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