설명
Film Thickness Monitor with JA Woolham Ellipsometer, for up to 300mm Open Cassettes환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Same as 8300X. Spectroscopic ellipsometer. The 8300XSE includes a fully integrated spectroscopic ellipsometer which expands the measurement capabilities of the basic product, especially in ultrathin and multiple film stack measurement applications.문서
문서 없음
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 9일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
153547
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NANOSPEC 8300XSE
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 9일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
153547
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Film Thickness Monitor with JA Woolham Ellipsometer, for up to 300mm Open Cassettes환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Same as 8300X. Spectroscopic ellipsometer. The 8300XSE includes a fully integrated spectroscopic ellipsometer which expands the measurement capabilities of the basic product, especially in ultrathin and multiple film stack measurement applications.문서
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