설명
Wafer thickness measurement system환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The FSM 413 by Frontier Semiconductor (FSM) is a specialized dimensional and topography metrology measurement system designed for non-contact wafer thickness and thin-film metrology.문서
문서 없음
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 4일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
153161
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR
FSM 413
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 4일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
153161
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Wafer thickness measurement system환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The FSM 413 by Frontier Semiconductor (FSM) is a specialized dimensional and topography metrology measurement system designed for non-contact wafer thickness and thin-film metrology.문서
문서 없음