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FOUP Factory Interface ETU Handler Main System Process: CDSEM Software Version: 14.3.0 CIM: SECS/GEMOEM 모델 설명
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.문서
문서 없음
카테고리
CD-SEM
마지막 검증일: 5일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
154789
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
2004
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
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APPLIED MATERIALS (AMAT)
NANOSEM 3D
카테고리
CD-SEM
마지막 검증일: 5일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
154789
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
2004
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
Electron microscope환경 설정
FOUP Factory Interface ETU Handler Main System Process: CDSEM Software Version: 14.3.0 CIM: SECS/GEMOEM 모델 설명
Introduced in fiscal 2002, the NanoSEM 3D system extends CD-SEM technology beyond the measurement of critical dimensions to enable the three-dimensional imaging of chip features to more precisely control their lithography and etch processes.문서
문서 없음