설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The ICOS WI-2200/2300, which perform 100% automated optical inspection and metrology of microelectronic devices on a variety of wafer substrates. This inspection system combines surface inspection and 2D bump inspection for semiconductor ICs, optoelectronics, advanced packaging, and MEMS.문서
문서 없음
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 18일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
152123
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ICOS
WI-2200
카테고리
Defect Inspection
마지막 검증일: 18일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
152123
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The ICOS WI-2200/2300, which perform 100% automated optical inspection and metrology of microelectronic devices on a variety of wafer substrates. This inspection system combines surface inspection and 2D bump inspection for semiconductor ICs, optoelectronics, advanced packaging, and MEMS.문서
문서 없음