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ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII
    설명
    Inspectra
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    FOCUS FE VII system is designed for high volume, sub-micron device manufacturing requiring superior film thickness and index of refraction measurements in diffusion, etch, CMP and CVD applications.
    문서

    문서 없음

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

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    검증됨

    카테고리
    Elipsometry

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105771


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

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    검증됨
    카테고리
    Elipsometry
    마지막 검증일: 60일 이상 전
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105771


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Available
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    Available
    설명
    Inspectra
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    FOCUS FE VII system is designed for high volume, sub-micron device manufacturing requiring superior film thickness and index of refraction measurements in diffusion, etch, CMP and CVD applications.
    문서

    문서 없음

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    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry빈티지: 2002조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전