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ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII
    설명
    Inspectra
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    FOCUS FE VII system is designed for high volume, sub-micron device manufacturing requiring superior film thickness and index of refraction measurements in diffusion, etch, CMP and CVD applications.
    문서

    문서 없음

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리
    Elipsometry

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105771


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일30일 이상 전

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    verified-listing-icon
    검증됨
    카테고리
    Elipsometry
    마지막 검증일: 60일 이상 전
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105771


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    설명
    Inspectra
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    FOCUS FE VII system is designed for high volume, sub-micron device manufacturing requiring superior film thickness and index of refraction measurements in diffusion, etch, CMP and CVD applications.
    문서

    문서 없음

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    모두 보기
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:30일 이상 전
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    ONTO / RUDOLPH / AUGUST FOCUS FE VII

    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

    FOCUS FE VII

    Elipsometry빈티지: 2002조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전