설명
Metrology (PL/Thickness )환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.문서
문서 없음
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 11일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
142359
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
IMPERIA
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 11일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
142359
웨이퍼 사이즈:
8"/200mm
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
Metrology (PL/Thickness )환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Imperia is a photoluminescence (“PL”) full wafer imaging and mapping system designed for high-volume compound semiconductor metrology applications including power control and photonics applications adding significant inspection and substrate metrology capability to the established PL fleet.문서
문서 없음