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Non Contact Thickness GageOEM 모델 설명
The Model 6034 measures wafer Thickness, Total Thickness Variation (TTV), Flatness, Bow and Warp. This system incorporates a similar capacitive measurement technique as the 6033T and is typically used in quality control and wafer processing areas to measure wafers up to 200mm in diameter.문서
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KLA / MICROSENSE
6034
검증됨
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
91980
웨이퍼 사이즈:
6"/150mm
빈티지:
알 수 없음
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
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6034
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
91980
웨이퍼 사이즈:
6"/150mm
빈티지:
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Non Contact Thickness GageOEM 모델 설명
The Model 6034 measures wafer Thickness, Total Thickness Variation (TTV), Flatness, Bow and Warp. This system incorporates a similar capacitive measurement technique as the 6033T and is typically used in quality control and wafer processing areas to measure wafers up to 200mm in diameter.문서
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