설명

설명 없음

환경 설정

- Max. Scan Length : 30 mm - Max. Data Points : 120,000 - Stylus Force : 0.03~10mg (programmable) - 2.5 um Stylus Tip Radius Standard - Color Camera with fixed zoom 100X - Sample Thickness : 20 mm max. - Sample Size : 140mm diameter max. - Sample Translation : Manual Stage, X,Y Stage - 360 degree Rotation Stage(Manual) - Vertical Range : 400um - Vertical Resolution : 1 Å - 5Å Repeatability

OEM 모델 설명

The AMBIOS XP-I profilometer allows the analysis of surface roughness with nanometer depth resolution using an adjustable needle pressure force in the range of 0.05 to 10 mg.

문서

문서 없음

AMBIOS TECHNOLOGY, INC

XP-1

검증됨

카테고리

Profiler

마지막 검증일: 2일 전

주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

155034

웨이퍼 사이즈:

알 수 없음

빈티지:

알 수 없음

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

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AMBIOS TECHNOLOGY, INC

XP-1

Profiler

빈티지: 0조건: 중고

마지막 검증일2일 전

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XP-1

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Profiler

마지막 검증일: 2일 전

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주요 품목 세부 정보

조건:

Used

작동 상태:

알 수 없음

제품 ID:

155034

웨이퍼 사이즈:

알 수 없음

빈티지:

알 수 없음

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OEM 모델 설명

The AMBIOS XP-I profilometer allows the analysis of surface roughness with nanometer depth resolution using an adjustable needle pressure force in the range of 0.05 to 10 mg.

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