메인 콘텐츠로 건너뛰기
Moov logo

Moov Icon
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS NOVA 200 NANOLAB
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The FEI Nova NanoLab 200 is a powerful tool for researchers and developers working with complex structures below 100 nanometers. It combines ultra-high resolution field emission scanning electron microscopy (SEM) and precise focused ion beam (FIB) etch and deposition to provide advanced capabilities and flexibility. This tool complements existing nanotechnology laboratory tools and extends the range of applications for nanoscale prototyping, machining, 2D and 3D-characterization, and analysis.
    문서

    문서 없음

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리
    SEM / FIB

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105387


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS NOVA 200 NANOLAB

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    NOVA 200 NANOLAB

    SEM / FIB
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    NOVA 200 NANOLAB

    verified-listing-icon
    검증됨
    카테고리
    SEM / FIB
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    listing-photo-b9813c49e80c49fda840d82a20a8f56f-https://d2pkkbyngq3xpw.cloudfront.net/moov_media/3.0-assets/photo-coming-soon-small.png
    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    105387


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The FEI Nova NanoLab 200 is a powerful tool for researchers and developers working with complex structures below 100 nanometers. It combines ultra-high resolution field emission scanning electron microscopy (SEM) and precise focused ion beam (FIB) etch and deposition to provide advanced capabilities and flexibility. This tool complements existing nanotechnology laboratory tools and extends the range of applications for nanoscale prototyping, machining, 2D and 3D-characterization, and analysis.
    문서

    문서 없음

    유사 등재물
    모두 보기
    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS NOVA 200 NANOLAB

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    NOVA 200 NANOLAB

    SEM / FIB빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS NOVA 200 NANOLAB

    THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS

    NOVA 200 NANOLAB

    SEM / FIB빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전