설명
No missing parts. With EDX환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Field Emission Scanning Electron Microscope문서
유사 등재물
모두 보기
HITACHI
S-4800 II
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
129996
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
2003
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available