설명
Imaging Resolution (SEM-mode): 1.2 nm 30kv 1.5 nm 15kv 3.0 nm 1kv Magnification Range: 10X-500,000X Deben PCD Beam Blanking System Beam Current 10pA-200nA Computer controlled large eucentric specimen stage Nabity's Nanometer Pattern Generation System V9.0 Thermal FE SEM.환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
JEOL
JSM 7000F
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 30일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
Installed / Running
제품 ID:
134592
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
Imaging Resolution (SEM-mode): 1.2 nm 30kv 1.5 nm 15kv 3.0 nm 1kv Magnification Range: 10X-500,000X Deben PCD Beam Blanking System Beam Current 10pA-200nA Computer controlled large eucentric specimen stage Nabity's Nanometer Pattern Generation System V9.0 Thermal FE SEM.환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
미제공문서
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