설명
설명 없음환경 설정
The JSM-7000F is a field-emission scanning electron microscope with a Schottky type field-emission gun for the electron source. The instrument is equipped for energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD) analysis. Schottky Field Emission Cathode High Resolution (1.2nm @30kV) Secondary (SEI) and Backscatter (BEI-TOPO/COMPO) ImagingOEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음
JEOL
JSM 7000F
검증됨
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 오늘
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
117400
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
JEOL
JSM 7000F
카테고리
SEM / FIB
마지막 검증일: 오늘
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
117400
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
설명
설명 없음환경 설정
The JSM-7000F is a field-emission scanning electron microscope with a Schottky type field-emission gun for the electron source. The instrument is equipped for energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD) analysis. Schottky Field Emission Cathode High Resolution (1.2nm @30kV) Secondary (SEI) and Backscatter (BEI-TOPO/COMPO) ImagingOEM 모델 설명
미제공문서
문서 없음