설명
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope In addition to its high-functionality CD-SEM features, the E3630 makes 3D imaging and measurement at the nanometer level, in real time and in a non-destructive way, possible. The E3630 significantly contributes to reducing TAT in R&D and production for many processes that require high-precision and/or 3D analysis.문서
문서 없음
ADVANTEST
E3630
검증됨
카테고리
SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
79946
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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E3630
카테고리
SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
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조건:
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Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscope In addition to its high-functionality CD-SEM features, the E3630 makes 3D imaging and measurement at the nanometer level, in real time and in a non-destructive way, possible. The E3630 significantly contributes to reducing TAT in R&D and production for many processes that require high-precision and/or 3D analysis.문서
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