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With EDX Secondary electron image resolution: 1.0nm (15kV, WD=4mm) 1.4nm (1kV, WD=1.5mm, Deceleration mode) 2.0nm (1kV, WD-1.5mm, Normal mode) Magnification: LM mode: 20 ~ 2,000X HM mode: 100 ~ 800,000X Specimen Stage: Stage Motorization: 5 Axis Stage Motorization Type II: X: 0 ~ 110mm; Y: 0 ~ 110mm, Z: 1.5 ~ 40mm; T: -5 ~ +70 deg, R: 360 deg Configuration: Operating System: Windows XP (Windows 10 upgrade as an option) Turbo Pump Joy Stick stage control Decleration mode RS-232C Option: IXRF EDXOEM 모델 설명
Field Emission Scanning Electron Microscope문서
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HITACHI
S-4800 II
검증됨
카테고리
SEM
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
74435
웨이퍼 사이즈:
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빈티지:
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HITACHI
S-4800 II
검증됨
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SEM
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Refurbished
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
74435
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