설명
PLXM20 - Sistema de fotolitografia para exposição de lâminas de semicondutores cobertas com polímeros fotossensível usando luz ultravioleta e máscaras (retículos) para a fabricação de circuitos integrados eletrônicos. -환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
DUV Step and Scan The PAS 5500/750F DUV Step-and-Scan system enables 130-nm mass production using mature 248-nm KrF technology. It combines the imaging power of the improved 0.7 NA 4x reduction lens with the latest multi-spot innovations in the leveling system and the AERIAL II illumination technology including QUASAR, multipole illumination and optional multiple exposure capability. The system is equipped with both TTL alignment and ATHENA for improved alignment accuracy on backend process layers, providing a long term single machine overlay of less than 25 nm.문서
문서 없음
카테고리
Steppers & Scanners
마지막 검증일: 12일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
149301
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML
PAS 5500/750F
카테고리
Steppers & Scanners
마지막 검증일: 12일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
149301
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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PLXM20 - Sistema de fotolitografia para exposição de lâminas de semicondutores cobertas com polímeros fotossensível usando luz ultravioleta e máscaras (retículos) para a fabricação de circuitos integrados eletrônicos. -환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
DUV Step and Scan The PAS 5500/750F DUV Step-and-Scan system enables 130-nm mass production using mature 248-nm KrF technology. It combines the imaging power of the improved 0.7 NA 4x reduction lens with the latest multi-spot innovations in the leveling system and the AERIAL II illumination technology including QUASAR, multipole illumination and optional multiple exposure capability. The system is equipped with both TTL alignment and ATHENA for improved alignment accuracy on backend process layers, providing a long term single machine overlay of less than 25 nm.문서
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