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설명 없음환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.문서
문서 없음
ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
SiPHER
검증됨
카테고리
Wet Processing / Wafer Cleaning
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
66272
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
2002
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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SiPHER
카테고리
Wet Processing / Wafer Cleaning
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
66272
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
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2002
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The SiPHER is a fully automated photoluminescence metrology system for the detection and mapping of 300mm substrate defects and metallic contamination. SiPHER detects and quantifies near surface and bulk metallic contamination in both bulk silicon and silicon epitaxial layers.문서
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