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KLA SURFSCAN 6420
    설명
    설명 없음
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The Surfscan 6420 detects submicron defects on metal films and rough surfaces but still provides sensitivity down to 0.1 micron on polished silicon. It is effective for detecting defects on non-uniform films, a critical requirement for CMP applications.
    문서

    문서 없음

    KLA

    SURFSCAN 6420

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리
    Defect Inspection

    마지막 검증일: 어제

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    115194


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    KLA SURFSCAN 6420

    KLA

    SURFSCAN 6420

    Defect Inspection
    빈티지: 1997조건: 중고
    마지막 검증일30일 이상 전

    KLA

    SURFSCAN 6420

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    검증됨
    카테고리
    Defect Inspection
    마지막 검증일: 어제
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    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    115194


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    Available
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    Available
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    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The Surfscan 6420 detects submicron defects on metal films and rough surfaces but still provides sensitivity down to 0.1 micron on polished silicon. It is effective for detecting defects on non-uniform films, a critical requirement for CMP applications.
    문서

    문서 없음

    유사 등재물
    모두 보기
    KLA SURFSCAN 6420

    KLA

    SURFSCAN 6420

    Defect Inspection빈티지: 1997조건: 중고마지막 검증일:30일 이상 전
    KLA SURFSCAN 6420

    KLA

    SURFSCAN 6420

    Defect Inspection빈티지: 1998조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    KLA SURFSCAN 6420

    KLA

    SURFSCAN 6420

    Defect Inspection빈티지: 1997조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전