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COHU / LTX-CREDENCE SAPPHIRE
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    주요 품목 세부 정보

    조건:Used

    작동 상태:

    제품 ID:62818

    웨이퍼 사이즈:알 수 없음

    빈티지:알 수 없음

    설명

    Tester

    환경 설정

    환경 설정 없음

    문서
    문서 없음
    OEM 모델 설명

    Sapphire is our next generation high performance SoC configurable test platform. First shipped by NPTest in December 2003, it is designed to be a highly reconfigurable and scalable functional and structural tester for a wide range of ICs. All of Sapphire’s test electronics are integrated in the test head and interconnected by a proprietary high bandwidth bus, which results in a lower cost platform and a smaller footprint. Sapphire can be used for design debug and validation, characterization, wafer sort and final test. The design supports a broad configuration range of up to 5,000 pins and a performance envelope that ranges from 200 MHz to 6.4 GHz.

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