SEMILAB
MCV 2500
Metrology
빈티지: 2010
조건: 중고
마지막 검증일
60일 이상 전
MCV 2500
카테고리
Metrology개요
The MCV automatic mapping systems provide a Mercury C-V measurement for non-patterned wafers used in epitaxial silicon production and front-end semiconductor processing.
활성 등재물
1
서비스
검사, 보험, 감정, 물류