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환경 설정 없음OEM 모델 설명
The MCV automatic mapping systems provide a Mercury C-V measurement for non-patterned wafers used in epitaxial silicon production and front-end semiconductor processing.문서
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SEMILAB
MCV 2500
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 10일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Parts Tool
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
146135
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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환경 설정 없음OEM 모델 설명
The MCV automatic mapping systems provide a Mercury C-V measurement for non-patterned wafers used in epitaxial silicon production and front-end semiconductor processing.문서
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