설명
HG-CV System for EPI resistivity measurement환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
The MCV automatic mapping systems provide a Mercury C-V measurement for non-patterned wafers used in epitaxial silicon production and front-end semiconductor processing.문서
문서 없음
SEMILAB
MCV 2500
카테고리
Metrology
마지막 검증일: 60일 이상 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
115098
웨이퍼 사이즈:
12"/300mm
빈티지:
2010
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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The MCV automatic mapping systems provide a Mercury C-V measurement for non-patterned wafers used in epitaxial silicon production and front-end semiconductor processing.문서
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