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HITACHI S-5500
    설명
    In-lens FE SEM
    환경 설정
    환경 설정 없음
    OEM 모델 설명
    The S-5500, Immersion Lens system which generates the highest resolution images in the world(*1)(0.4nm at 30kV. The S-5500 have improved performance over that of its predecessor, the S-5200. [Main features of S-5500] (1) The world’s highest resolution, 0.4 nm at 30 kV, achieved by the use of a new electron optics system (as of October 2004). (2) New BF (bright field)/ DF (dark field) Duo STEM (scanning transmission electron microscopy) detector allows simultaneous display of BF and DF STEM images. In DF STEM mode, this detector is capable of providing images with variable detection angles. This new detection system greatly extends the usage of low accelerating voltage STEM at 30 kV.
    문서

    문서 없음

    HITACHI

    S-5500

    verified-listing-icon

    검증됨

    카테고리
    SEM / FIB

    마지막 검증일: 60일 이상 전

    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    115008


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    유사 등재물
    모두 보기
    HITACHI S-5500

    HITACHI

    S-5500

    SEM / FIB
    빈티지: 0조건: 중고
    마지막 검증일60일 이상 전

    HITACHI

    S-5500

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    검증됨
    카테고리
    SEM / FIB
    마지막 검증일: 60일 이상 전
    listing-photo-54f4084202f948229e57e5110e85c92a-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1987/54f4084202f948229e57e5110e85c92a/e94b8c4b17124c4b984a2d2db3ea2efb_1_mw.png
    주요 품목 세부 정보

    조건:

    Used


    작동 상태:

    알 수 없음


    제품 ID:

    115008


    웨이퍼 사이즈:

    알 수 없음


    빈티지:

    알 수 없음


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    In-lens FE SEM
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    OEM 모델 설명
    The S-5500, Immersion Lens system which generates the highest resolution images in the world(*1)(0.4nm at 30kV. The S-5500 have improved performance over that of its predecessor, the S-5200. [Main features of S-5500] (1) The world’s highest resolution, 0.4 nm at 30 kV, achieved by the use of a new electron optics system (as of October 2004). (2) New BF (bright field)/ DF (dark field) Duo STEM (scanning transmission electron microscopy) detector allows simultaneous display of BF and DF STEM images. In DF STEM mode, this detector is capable of providing images with variable detection angles. This new detection system greatly extends the usage of low accelerating voltage STEM at 30 kV.
    문서

    문서 없음

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    HITACHI S-5500

    HITACHI

    S-5500

    SEM / FIB빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    HITACHI S-5500

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    SEM / FIB빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전
    HITACHI S-5500

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    SEM / FIB빈티지: 0조건: 중고마지막 검증일:60일 이상 전