설명
flatness & Thickness환경 설정
환경 설정 없음OEM 모델 설명
Benchtop automated thickness measurement system with X-Y stage on air bearing for wafers up to 8” round and for square wafers up to 156mmx156mm. Solar Wafers QA and QC, Cost effective, compact metrology tool for R&D labs for all type of wafers and surfaces.문서
문서 없음
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 17일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
137059
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
유사 등재물
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KLA / MICROSENSE
UltraMap-200B
카테고리
Thin Film / Film Thickness
마지막 검증일: 17일 전
주요 품목 세부 정보
조건:
Used
작동 상태:
알 수 없음
제품 ID:
137059
웨이퍼 사이즈:
알 수 없음
빈티지:
알 수 없음
Logistics Support
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Available
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환경 설정 없음OEM 모델 설명
Benchtop automated thickness measurement system with X-Y stage on air bearing for wafers up to 8” round and for square wafers up to 156mmx156mm. Solar Wafers QA and QC, Cost effective, compact metrology tool for R&D labs for all type of wafers and surfaces.문서
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